The Easy Steps to Calculate Sampling Clock Jitter for Isolated, Precision High Speed DAQs

作者：Lloben Paculanan，ADI 应用开发工程师
John Neeko Garlitos，ADI 产品应用工程师

简介

出于鲁棒性、安全性、高共模电压考量，或为了消除可在测量中带来误差的接地环路，许多数据采集(DAQ)应用都需要隔离DAQ信号链路径。ADI的精密高速技术使系统设计人员能够在相同的设计中实现高交流和直流精度，无需牺牲直流精度来换取更高的采样速率。然而，为实现高交流性能，如信噪比(SNR)，系统设计人员必须考虑采样时钟信号或控制ADC中采样保持(S&H)开关的转换启动信号上的抖动所带来的误差。随着目标信号和采样速率的增加，控制采样保持开关的信号抖动会成为主要误差源。

当DAQ信号链被隔离之后，控制采样保持开关的信号一般来自进行多通道同步采样的背板。系统设计人员选择低抖动数字隔离器至关重要，以使进入ADC的采样保持开关的控制信号具有低抖动。精密高速ADC应首选使用LVDS接口格式，以满足高数据速率要求。它还会对DAQ电源层和接地层带来极小的干扰。本文将说明如何解读ADI公司的LVDS数字隔离器的抖动规格参数，以及与精密高速产品（例如ADAQ23875DAQ μModule®解决方案）接口时，哪些规格参数比较重要。本文的这些指导说明也适用于其他带有LVDS接口的精密高速ADC。在介绍与ADN4654千兆LVDS隔离器配合使用的ADAQ23875时，还将说明计算对SNR预期影响采用的方法。

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